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扫描电子显微镜作X射线荧光分析

2009/3/20/16:53 来源:纺织导报

    慧聪教育网】最近增加了评估损伤赔偿的测试仪器,扫描电子显微镜(SEM)内的能量色散X射线荧光分析(EDX)不但能够识别单一的化学元素,更可以应付日益增加的羊绒分析需求。

    在扫描电子显微镜下,可以清楚地看到纤维、长丝和纱线的横截面和表面特征。SEM的长焦距和高分辨率特别适合于具有结构性表面的物体上。

    配备了能量色散X射线荧光分析(EDX)的SEM的功能得以进一步扩展。EDX通过X射线的产生来研究元素的组成,分析试样的微小区域。这与原子序数高于11的成分有关(所有的成分均比钠重)。

    这种用于评估损伤赔偿的分析方法的应用越来越多,以对纺织品表面涂层中的元素进行准确分析。

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